Chambre de choc thermique de la température de ciel et terre pour des essais de performances de l'électronique |
Détails sur le produit:
Conditions de paiement et expédition:
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à hautes températures: | + 60 ℃ ~ + 150 ℃ | Basse température: | -65 ℃ ~ -10 ℃ |
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Temps de rétablissement: | -65 ℃ ~ + 150 ℃ | Matériel d'isolation: | Plaque en acier inoxydable dans les 5min |
Système de réfrigération: | Refroidi à l'eau | Temp ambiant: | +5°C à 35°C |
Surligner: | Chambre de choc thermique,chambres d'essai environnemental |
Chambre climatique d'essai de choc thermique d'écran tactile de l'équipement de laboratoire 2-Zone pour l'alimentation CC
L'OEM et l'ODM sont bienvenus, plus d'information, bon contact de pls : anna@komegtech.com
Spécification technique principale
(1) série de KTS-A
Modèle |
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72A | 100A | 150A | 200A | 252A | 300A | 480A | |||
Taille intérieure (millimètres) | W | 450 | 500 | 600 | 670 | 700 | 800 | 800 | |
H | 400 | 450 | 500 | 600 | 600 | 600 | 800 | ||
D | 400 | 450 | 500 | 500 | 600 | 650 | 750 | ||
Taille extérieure (millimètres) | W | 1490 | 1540 | 1640 | 1720 | 1750 | 1850 | 1850 | |
H | 1790 | 1840 | 1890 | 2000 | 2000 | 2000 | 2200 | ||
D | 1600 | 1700 | 1830 | 1850 | 1930 | 1980 | 2500 | ||
Poids d'essai | 5 | 10 | 12 | 15 | 18 | 20 | 20 | ||
Chambre à basse température | -55ºC~-10ºC, temps pré de refroidissement : minute du ≤ 60 de +20ºCto-55ºC | ||||||||
Chambre d'essai | -40ºC~+150ºC | ||||||||
Chambre à hautes températures | +60ºC~+200ºC, à moins de 20 minute, préchauffant le temps | ||||||||
Temps de transition | ≤15S | ||||||||
Temps de rétablissement | Minute à hautes températures de l'exposition 30 pour atteindre et stabiliser le temp chaud requis de l'échantillon d'essai | ||||||||
Minute à basse température de l'exposition 30 pour atteindre et stabiliser le temp froid requis de l'échantillon d'essai | |||||||||
≤ 5 minimum | |||||||||
Temp ambiant | +5ºC~+35ºC | ||||||||
Puissance | C.A. 380±10% 50Hz, 3 fils des fils +Ground de la phase 4 |
(2) série de KTS-B
Modèle |
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72B | 100B | 150B | 200B | 252B | 300B | 480B | |||
Taille intérieure (millimètres) | W | 450 | 500 | 600 | 670 | 700 | 800 | 800 | |
H | 400 | 450 | 500 | 600 | 600 | 600 | 800 | ||
D | 400 | 450 | 500 | 500 | 600 | 650 | 750 | ||
Taille extérieure (millimètres) | W | 1490 | 1540 | 1640 | 1720 | 1750 | 1850 | 1850 | |
H | 1790 | 1840 | 1890 | 2000 | 2000 | 2000 | 2200 | ||
D | 1600 | 1700 | 1830 | 1850 | 1930 | 1980 | 2500 | ||
Poids d'essai (kilogrammes) | 5 | 10 | 12 | 15 | 18 | 20 | 20 | ||
À basse température. chambre | -70ºC~-10ºC, temps pré de refroidissement : +20ºC~-70ºC, minute du ≤ 60 | ||||||||
Essai. Chambre | -55ºC~+150ºC | ||||||||
À hautes températures. la température de chambre | +60ºC~+200ºC, préchauffant le temps : minute ≤20 | ||||||||
Temps de transition | ≤15S | ||||||||
Temps de rétablissement | Minute à hautes températures de l'exposition 30 pour atteindre et stabiliser le temp chaud requis de l'échantillon d'essai | ||||||||
Minute à basse température de l'exposition 30 pour atteindre et stabiliser le temp froid requis de l'échantillon d'essai | |||||||||
≤ 5 minimum |
(2) série de KTS-D
Modèle |
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72B | 100B | 150B | 200B | 252B | 300B | 480B | |||
Taille intérieure (millimètres) | W | 450 | 500 | 600 | 670 | 700 | 800 | 800 | |
H | 400 | 450 | 500 | 600 | 600 | 600 | 800 | ||
D | 400 | 450 | 500 | 500 | 600 | 650 | 750 | ||
Taille extérieure (millimètres) | W | 1490 | 1540 | 1640 | 1720 | 1750 | 1850 | 1850 | |
H | 1790 | 1840 | 1890 | 2000 | 2000 | 2000 | 2200 | ||
D | 1600 | 1700 | 1830 | 1850 | 1930 | 1980 | 2500 | ||
Poids d'essai (kilogrammes) | 5 | 10 | 12 | 15 | 18 | 20 | 20 |
À basse température. chambre | -80ºC~-10ºC, temps pré de refroidissement : +20ºC~-70ºC, à moins de la minute 60 | |||||||
Essai. Chambre | -65ºC~+150ºC | |||||||
À hautes températures. la température de chambre | +60ºC~+200ºC, préchauffant le temps : minute ≤20 | |||||||
Temps de transition | ≤15S | |||||||
Temps de rétablissement | Minute à hautes températures de l'exposition 30 pour atteindre et stabiliser le temp chaud requis de l'échantillon d'essai | |||||||
Minute à basse température de l'exposition 30 pour atteindre et stabiliser le temp froid requis de l'échantillon d'essai | ||||||||
≤ 5 minimum |
Description et application
Car nous savons que le choc thermique se produit quand un gradient thermique cause différentes parties d'un objet à
augmentez par différents montants. Cette expansion différentielle peut être comprise en termes d'effort ou de la tension,
d'une manière equivalente. À un certain point, cet effort peut dépasser la force du matériel, faisant former une fente. Si
rien n'arrête cette fente de la propagation par le matériel, il fera échouer la structure de l'objet.
Normalement nous utilisons l'équipement de test de choc thermique pour examiner combien de quantité peut un produit résister à thermique
choc.
Le test de performance de sécurité applicable à l'élément électronique de vitalité fournit l'essai de fiabilité, produit
test de dépistage, etc. en même temps, par cet essai d'équipement, la fiabilité du produit et
le contrôle de qualité du produit peut être amélioré.
Les photos montrent
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Téléphone: +8618098282716