La lampe à arc de xénon a accéléré la chambre d'essai vieillissant/la chambre d'essai de désagrégation lampe xénon |
Détails sur le produit:
Conditions de paiement et expédition:
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Chaîne de Temp: | +105℃~+135℃ | Déviation de Temp: | ± 0.5℃ de ≦ |
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Chaîne de pression: | Pression indiquée : +0,2 | pression de *Absolute 200Kpa : 100 | 300Kpa | Matériel intérieur: | Acier inoxydable |
Matériel extérieur: | Acier de peinture cuit au four | Uptime de chauffage: | 0.7℃~1.0℃/minutes (moyenne) |
Surligner: | Chambre d'essai de vieillissement de semi-conducteurs d'IC,chambre d'essai de vieillissement 155L,Chambre d'essai de Hast de semi-conducteurs d'IC |
Chambre climatique d'essai de vieillissement de /Hast de halte pour des semi-conducteurs d'IC
Volume et dimension
2,1 volumes | Au sujet de 155L |
2,2 taille intérieure | Ø550 mm*D650mm (boîte intérieure de pression à tambour) |
2,3 taille extérieure |
W900 mm*H1552mm*D1500 millimètres (à l'exclusion de la pièce saillante de la machine !) Astuces : Pour des dimensions externes, confirmez svp les trois vues selon la conception finale ! |
3. Les paramètres techniques principaux
3,1 conditions d'essai |
Méthode fraîche : : Refroidissement ou purge naturel d'air Mesuré à une température ambiante du ℃ +25 sous aucune charge, mesurée à la pression normale 101.3Kpa, la température et le test de performance d'humidité est mesurée selon les règlements appropriés selon GB/T 2424,5 ou IEC60068 -3 ; le capteur est placé à la bouche d'air d'air manipulant l'unité. |
3,2 température ambiante | +105℃~+135℃ (à l'hygrométrie de 100%) |
fluctuation 3.3Temp | ±0.5℃ |
uniformité 3.4Temp | ≤±3.0℃ |
déviation 3.5Temp | ≤±3.0℃ |
3,6 humidité relative |
1) Mode test insaturé de BOURDONNEMENT : 65~100%RH 2) Mode test de saturation de DST : 100%RH |
3,7 fluctuation d'humidité | ±3.0%RH |
3,8 déviation d'humidité | ±5.0%RH |
3,9 taux de changement de température |
Réchauffez le taux : +25℃~+135℃, minute approximativement 45 de vitesse moyenne de gamme complète (à vide, aucun chauffage) |
3,10 charge | non |
Note : Mesuré à une température ambiante du ℃ +25 sous aucune charge, la température et le test de performance d'humidité est mesurée selon les règlements appropriés selon GB/T 2424,5 ou IEC60068 -3 ; le capteur est placé à la bouche d'air d'air manipulant l'unité. | |
3,11 chaîne de pression |
Pression indiquée : +0,2 | 200Kpa pression de *Absolute : 100 | 300Kpa |
3,12 déviation de pression | kPa ≤±2 |
3,13 temps de montée de pression | Pression atmosphérique à 200Kpa 20min |
Construction de chambre
4,1 type de construction |
Structure intégrale de récipient à pression de tambour Conformez-vous aux normes nationales de conteneur de sécurité La conception intérieure de boîte du tambour empêche la condensation sur l'eau supérieure et s'égouttante |
4,2 structure de clôture d'isolation | Plat anti-corrosif en plastique d'électrolyse de jet externe - couche intermédiaire d'isolation est le matériel d'isolation résistant à la température de mousse - plaque d'acier inoxydable intérieure de la boîte SUS316 |
4,3 extérieur matériel |
Panneau électrolytique anti-corrosif de haute qualité, peinture électrostatique extérieure de cuisson de poudre., couleur standard de KOMEG. |
4,4 matériel intérieur |
Acier inoxydable SUS316 ; mur intérieur plein-soudé
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4,5 isolation | Couche extrafine d'isolation de laine de verre, catégorie ignifuge A1 |
4,6 porte
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Ouverts simples la porte, s'ouvrent vers la gauche ; Poignée rotatoire encastrée |
4,10 unité | Cuve de stockage de l'eau, débouché d'air de refroidissement, pompe automatique de remplissage de l'eau, vanne électromagnétique de remplissage de l'eau, boîte de niveau d'eau, trou de drain |
Application :
Il est très utilisé dans des semi-conducteurs d'IC, des connecteurs, des cartes, des matériaux magnétiques, des matériaux de polymère, EVA, des modules photovoltaïques et d'autres produits connexes pour l'essai de durée vieillissement accéléré
Description de produit
Le but de l'essai vieillissement accéléré fortement (HAST) est d'augmenter le stress environnemental de produit (tel que la température) et les contraintes du travail (la tension, la charge, etc. se sont appliqués au produit), accélère le processus d'essai, et raccourcit la période d'essai de durée du produit ou du système. , La fiabilité des produits semiconducteurs s'est améliorée. Actuellement, la plupart des appareils électroniques peuvent résister à des essais de déviation de haute température à long terme et de humidité élevé sans échec. Par conséquent, le temps d'essai déterminait la qualité du produit fini a également augmenté beaucoup. Dans l'étape de conception du produit, il est employé pour exposer rapidement les défauts et les faiblesses du produit, et examine la représentation de cachetage et de vieillissement de ses produits.
Caractéristiques :
◆Le réservoir intérieur adopte la conception d'arc de double-couche, qui peut empêcher le phénomène de la condensation et de l'égoutture dans l'essai, afin d'éviter l'impact direct de la vapeur surchauffée sur le produit dans le processus d'essai et affecter le résultat d'essai.
◆Utilisant l'écran tactile de véritable couleur de 7 pouces, avec 250 groupes de 12 500 programmes, avec la fonction de téléchargement de données de courbe d'USB, interface de communication RS-485.
◆Utilisant le capteur sec-et-humide d'ampoule pour la mesure directe (des modes de contrôle sont divisés en trois modes : saturation sèche et de thermomètre humide, insaturée et humide).
Les photos montrent